Computer Retrofitting of Measurement and Control as an Element of Information Technology

Abstract

This paper presents the results of different nature surfaces fractal analysis, which enables to reveal the roughness of the submicro- and nano levels, inaccessible for the traditional methods of researching. Due to the retrofitting procedures, including the computer processing of the fractal signatures, the additional information on its condition was obtained. It enables to enhance the reliability of results and to widen it's range to the submicro- and nano- levels.

Keywords

fractal analysis of surfaces of various nature / retrofitting of measurement and evaluation procedures / roughness of submicro-and nano-level

References

[1] Петров В.И. Сканирующая зондовая микроскопия / Петров В.И., Лукьянов А.Е., - М.: Физ.дан. МГУ, ч.1, 2001 108 с.

[2] Рыков С.А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур. Учебное пособие для студентов ВУЗов.- СПб.: Наука, 2001. 52 с.

[3] Вячеславова О.Ф., Иванов С.А. Объективные предпосылки создания новых подходов в оценке шероховатости поверхности, обработанной электрофизическими методами обработки: материалы 8-й Всероссийской научно-техн. конф. «Состояние и проблемы измерений». М.: 2002, ч.2. с. 65-66.

[4] Вячеславова О.Ф., Назаров Ю.Ф., Иванов С.А. Фрактальная модель формирования поверхности физическими методами//Обозрение прикладной и промышленной математики. 2002, т.9, вып.3, с.698 -599.

[5] Информационные технологии в разработке сложных систем: Труды ГОСНИИАС/ГОСНИИ авиац. Систем: -М:, вып. 1(3), 1994,.92 с.

[6] Информационные технологии, системы и приборы: Сб. научных трудов/Ульяновский Госуд. Техн. университет. Ульяновск, 1998. 91 с.

[7] Потапов А.А., Герман В.А. О методах измерения фрактальной размерности и фрактальных сигнатур многомерных стохастических сигналов /В ж. «Радиотехника и электроника», 2004, т.49, № 12, с.1468 - 1491

RIGHTS & PERMISSIONS

Vyacheslavova O.F.