Atomic force microscopy in oncocytology

N N Volchenko , E N Slavnova , S S Sukharev , V I Chissov , I V Reshetov , V A Bykov , N N Volchenko , E N Slavnova , S S Sukharev , V I Chissov , I V Reshetov , V A Bykov

Russian Journal of Oncology ›› 2011, Vol. 16 ›› Issue (5) : 12 -17.

PDF
Russian Journal of Oncology ›› 2011, Vol. 16 ›› Issue (5) : 12 -17. DOI: 10.17816/onco39875
Articles
other

Atomic force microscopy in oncocytology

Author information +
History +
PDF

Abstract

A new atomic force microscopy (AFM) method was used to examine 51 cytology specimens from breast and thyroid tumors and pretumors and 17 uterine cervix scrapes. The authors formulated the main tasks of using AFM in oncocytology: to search for objective criteria for differential diagnosis between intact and cancer cells; to identify viral changes in the squamatous epithelial cells; and to objectify the immunocytochemical reaction of Her-2/neu oncoprotein hyperexpression.The studies have revealed as follows: glandular cancers are characterized by an increased nucleus/cytoplasm height ratio (from 1.8 to 2.5 for breast cancer and from 1.9 to 2.5 for thyroid cancer); the squamatous epithelial cells show an inverse trend (a decrease from 2.96 to 2.08 for keratinizing carcinoma of the cervix uteri); viral squamatous cell lesion appears as a perinuclear groove 200 nm in depth; Her-2/neu oncoprotein hyperexpression corresponds to the increase in cytoplasmic height from 248 to 850 nm.

Keywords

oncocytology / atomic force microscopy

Cite this article

Download citation ▾
N N Volchenko, E N Slavnova, S S Sukharev, V I Chissov, I V Reshetov, V A Bykov, N N Volchenko, E N Slavnova, S S Sukharev, V I Chissov, I V Reshetov, V A Bykov. Atomic force microscopy in oncocytology. Russian Journal of Oncology, 2011, 16(5): 12-17 DOI:10.17816/onco39875

登录浏览全文

4963

注册一个新账户 忘记密码

References

[1]

Гущина Ю. Ю., Олюнина Л. Н., Гончарова А. П. и др. // Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2005. - № 5. - С. 87-92.

[2]

Гущина Ю. Ю., Плескова С. Н., Звонкова М. Б. // Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2005. - № 1. - С. 48-53.

[3]

Кирпичников М. П. // В мире науки. - 2006. - № 9. - С. 82-85.

[4]

Миронов В. Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. - М., 2004.

[5]

Саликова С. П., Стадников А. А., Никиян А. Р. // Вестн. Оренбург. гос. ун-та. - 2003. - № 1. - С. 56-62.

[6]

Стентон Г. Медико-биологическая статистика. - М., 1999.

[7]

Чиссов В. И., Волченко Н. Н., Решетов И. В. и др. // Материалы Всероссийской науч. конф. с международным участием "Нанотехнологии в онкологии 2008". - М., 2008. - С. 80-81.

[8]

Яковлева В. А., Лисицин Ф. В., Маныкин А. А., Конышева Т. А. // Новости клин. цитол. России. - 2007. - № 1-2. - С. 35-37.

[9]

Chernoff D. A. // Nanotech-2008. Technical Proceedings of the 2008. Nanotechnology Conference and Trade Show. - 2008. - Vol. 2. - P. 700-703.

[10]

Lal R., John D. W., Laird S. A., Arnsdorf M. F. // Am. J. Physiol. Soc. - 1995. - Vol. 68. - P. 967-977.

[11]

Máire A., Duggan M. D. // Mod. Pathol. - 2000. - Vol. 13. - P. 252-260.

[12]

Murphy M. F., Lalor M. J., Manning F. C. R. et al. // Microsc. Res. Tech. - 2006. - Vol. 69, N 9. - P. 757-765.

[13]

NTEGRA Probe NanoLaboratory. Модуль обработки изображений: Справочное руководство / Под ред. В. А. Быкова. - Зеленоград, 2006.

[14]

NTEGRA Probe NanoLaboratory. Управляющая электроника: Справочное руководство / Под ред. В. А. Быкова. - Зеленоград, 2006.

[15]

Sanjeev G., Shroff, Donald R. Saner et al. // Am. J. Physiol. Soc. - 1995. - Vol. 69, N 38. - P. 286-329.

RIGHTS & PERMISSIONS

Eco-Vector

AI Summary AI Mindmap
PDF

133

Accesses

0

Citation

Detail

Sections
Recommended

AI思维导图

/